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ENS Cachan - Institut d'Alembert

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Caractérisation de matériaux

Le plateau technique « caractérisation de matériaux » permet la mise en forme et la caractérisation, de l'échelle nanométrique à micrométrique, de matériaux organiques qui sont utilisés dans les projets en photo-physique, photochimie et photonique de l'Institut. L'étude de composés ou d'échantillons dans ces différents domaines nécessite une caractérisation préalable. En effet, il est toujours nécessaire de connaître la composition, la stabilité ainsi que la taille des objets que l'on étudie pour mieux comprendre leurs propriétés.


Microscope à force atomique (AFM)
Microscope à force atomique (AFM)

Les appareils présents sur la plateforme peuvent être utilisés à différents stades de la réalisation d'une molécule, d'une nanoparticule  ou d'un composant. Leurs fonctions complémentaires, permet de les répartir selon différentes catégories:

  • Mesure sur produits bruts issus d'une activité de synthèse, par exemple, afin  de déterminer la bonne réalisation ou bien les propriétés d'un composé (analyses thermiques ATG/DSC et spectromètre FTIR)

    Détecteur EDX sur MEB
    Détecteur EDX installé sur le Microscope électronique à balayage

    • Réalisation de films minces pour molécules organiques par la technique PVD (Evaporateur thermique organique )
    • Caractérisation topographique et morphologique afin de déterminer les tailles, la forme et la composition de composants, de nanoparticules ou d'échantillons finis (Microscope AFM,  Microscope MEB et détection EDX).
    • Caractérisation optique de couches minces (Ellipsomètre spectrocopique)

    L'épaisseur et l'homogénéité, de couches nanométriques de polypyrrole mise en forme par électrodéposition autour de fibres de carbones, ont été déterminées par ATG et AFM (ANR "PROCOM"). Dans le projet "Bioptofluidic", l'AFM et le spectromètre FTIR ont été utilisés pour vérifier le greffage de molécules auto-assemblées (SAM) à la surface d'une couche de SU-8.
    Outre les utilisateurs de l'institut, ces appareils sont aussi utilisés par des chercheurs de Laboratoire de l'ICMMO (Orsay) de l'Ecole Centrale de Paris, du LMT...

    Image AFM de la cristallisation d'un film mince après dépôt sous vide de N-(3,5-di-tert-butylsalicylidène)-4-iodoaniline.


    Contacts

    Arnaud BROSSEAU (AFM, ATG/DSC, FT-IR, Evaporteur PVD)
    Rasta GHASEMI (MEB et EDX)
    Chi Thanh NGUYEN (Ellipsomètre spectroscopique)

    Liste des équipements :

    - Microscope AFM
    - Microscope MEB et sonde EDX
    - Evaporateur thermique organique PVD
    - DSC
    - ATG
    - Spectromètre FTIR
    - Ellipsomètre spectroscopique

    Consulter le calendrier des réservations

    Localisation

    Les équipements de ce plateau technique sont répartis dans différents sites :
    - Bâtiment d'Alembert - 3ème étage - PPSM
    - Bâtiment d'Alembert - 2ème étage - LPQM (Ellipsomètre)
    - Bâtiment de l'Institut d'Alembert - Rdc Bas - pièce B31 (MEB)
    - Bâtiment de l'Institut d'Alembert - Rdc Bas - pièce B36 (Mesures en photonique moléculaire)