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ENS Cachan - Institut d'Alembert

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Caractérisation topographique et morphologique

Grâce à des appareils comme le Microscope à Force Atomique (AFM), le profilomètre optique ou bien le Microscope Electronique à Balayage (MEB), on peut déterminer la taille et la forme de particules micrométriques ou nanométriques. Dans le cas d'un dépôt solide, par sublimation par exemple, ces appareils nous permettent d'accéder à la topographie de la surface de l'échantillon. On a alors des informations sur la planéité ou la rugosité de l'échantillon. Le MEB permet de plus de faire une cartographie X des éléments de manière simultanée.

Microscope Electronique à Balayage
Microscope électronique à balayage (MEB)
Pièce B31 - bâtiment de l'Institut d'Alembert


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Liste des équipements


Microscope électronique à balayage (MEB)

Localisation


- Bâtiment de l'Institut d'Alembert - Rdc Bas - pièce B31

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