Accès direct au contenu

ENS Cachan - Institut d'Alembert

Version anglaise

aide

Accueil > Plateformes > Caractérisations et tests > Caractérisation composants

Caractérisation de composants optiques et systèmes

Banc de caractérisation d'un composant télécomLe plateau technique "Composants optiques et systèmes" a pour but de caractériser du point de vue optique et électronique d'une part des composants photoniques de type opto-microondes figurant dans les systèmes de télécommunications optiques, et d'autre part les systèmes eux-mêmes. Les interactions entre les deux types d'ondes peuvent aussi être étudiées.


Les appareils de mesures contenus dans le plateau technique peuvent être divisés selon cinq axes:

Mots clefs:


- goniomètre 3D
- capteurs opto-fluidiques
- microondes
- oscillateur à ligne à retard
- oscillateur optoélectronique


Contacts et modalités d'accès

JOURNET Bernard (Systèmes optoélectroniques et RF)

NGUYEN Chi Thanh, JOURNET Bernard (Composants photoniques polymères)

LAI Ngoc-Diep (Cristaux photoniques)

LEBENTAL Mélanie (Micro-cavités lasers)

LEDOUX-RAK Isabelle (Mesures de non linéarité moléculaire)


Liste des équipements

  • Banc de caractérisation des composants optiques intégrées passifs et actifs avec source accordable et amplificateur optique dans la fenêtre de télécoms optiques
  • Analyseur de spectre HF 3 Hz-40 GHz (Agilent E4446A)
  • Analyseur de spectre et réseau 1,8 GHz (HP4396A)
  • Générateur de retard (DG535)
  • Générateur de fonction 80 MHz (Agilent 33250A)
  • Compteur fréquencemètre 2 voies 225 MHz, 1 voie 3 GHz (HP53131A)

Localisation

Les équipements sont regroupés au sous-sol ainsi qu'au troisième étage du bâtiment nord de l'ENS.