Optical compounds and systems characterization
The "Photonic devices and systems" characterization platform can be used to characterize the optical and electronic performances of either individual photonic components such as opto-microwave devices in optical telecommunication systems or these systems themselves. The interactions between optical waves and microwaves in these systems can be also investigated.
- Polymer-based photonic devices
- Photonic crystal
- Mesures de non linéarité moléculaire
- Laser Microcavities
- Optoelectronic and RF Systems component
Contacts
JOURNET Bernard (Systèmes optoélectroniques et RF)
NGUYEN Chi Thanh, JOURNET Bernard (Composants photoniques polymères)
LAI Ngoc-Lai (Cristaux photoniques)
LEBENTAL Mélanie (Micro-cavités lasers)
LEDOUX-RAK Isabelle (Mesures de non linéarité moléculaire)
Equipements list
- Banc de caractérisation des composants optiques intégrées passifs et actifs avec source accordable et amplificateur optique dans la fenêtre de télécoms optiques
- Analyseur de spectre HF 3 Hz-40 GHz (Agilent E4446A)
- Analyseur de spectre et réseau 1,8 GHz (HP4396A)
- Générateur de retard (DG535)
- Générateur de fonction 80 MHz (Agilent 33250A)
- Compteur fréquencemètre 2 voies 225 MHz, 1 voie 3 GHz (HP53131A)
Localisation
Les équipements sont regroupés dans le bâtiment d'Alembert, 1er étage - pièce 114 bis (aile du LPQM), et pendant quelques temps encore pièce 221A au 2ème étage du même bâtiment.