Accès direct au contenu

ENS Cachan - Institut d'Alembert

Version anglaise

aide

Accueil > Espace réservé > Accès au plateforme de l'Institu

Accès aux plateformes de l'Institut d'Alembert

Les plate-formes sont accessibles à toutes les équipes de recherche rattachées à l'Institut d'Alembert. L'accès aux équipements est soumis à autorisation des chercheurs ou des ingénieurs responsables.

La demande d'accès aux plateformes est soumis à l'obtention préalable de l'attestation de formation NEO.

Pour connaître les conditions d'accès, il convient de prendre contact avec les chercheurs et ingénieurs suivant:

  • Caractérisations et tests (matériaux et composants)
- Composants photoniques polymères: NGUYEN Thanh (55 57), JOURNET Bernard (55 52)
- Cristaux photoniques: LAI Ngoc-Diep (55 59)
- Mesures de non linéarité moléculaire: LEDOUX-RAK Isabelle (55 60)
- Micro-cavités lasers: LEBENTAL Mélanie (55 58)
- Systèmes optoélectroniques et RF: JOURNET Bernard (55 52)
- AFM, ATG/DSC, FT-IR, Evaporteur PVD: BROSSEAU Arnaud (55 94)
- MEB et EDX: GHASEMI Rasta (55 56)
- Ellipsomètre spectroscopique: NGUYEN Chi Thanh  (55 57)

- Imagerie bio-photonique: CINQUIN Bertrand (76 70)
- Imagerie cellulaire: CINQUIN Bertrand (76 70)
- Imagerie multiparamétrique: AUDIBERT Jean-Frédéric (75 90)
- Nanophotonique: OLIVIER-KAISER Aurélia (53 51)

  • Microfluidique:  LEFEVRE Jean-Pierre (77 35)


- 1er groupe, 2ème groupe (sauf le L2 confocal) et 3ème groupe : SUBRA Frédéric (77 41)
- Imagerie cellulaire (L2) : CINQUIN Bertrand (76 70)


  • Résonance Magnétique Nucléaire
- RMN 500 MHz: ZARGARIAN Loussine (77 39)
- RMN 400 MHz: MAISONNEUVE Stéphane (74 90)